Pierwsze Ogólnopolskie

Warsztaty Kompatybilnoœci Elektromagnetycznej

WARSZTATY EMC – WROCŁAW ’99

Pod patronatem Sekcji Kompatybilnoœci Elektromagnetycznej Komitetu Elektroniki i Telekomunikacji PAN

SZCZEGÓŁOWY PROGRAM WARSZTATÓW Z PLANEM GODZINOWYM format MS Word 97

WARSZTATY EMC – WROCŁAW ’99

RAMOWY PROGRAM WARSZTATÓW

REFERATY PLENARNE (29 czerwca 1999 r.)

Kompatybilnoœć elektromagnetyczna - Daniel J. Bem

Podstawowe pojęcia i definicje. Mechanizmy generacji zakłóceń. Rozprzestrzenianie się zakłóceń: sprzężenia pojemnoœciowe, indukcyjne i polowe. Sposoby ograniczania emisji zakłóceń. Sposoby ochrony przed zakłóceniami.

Dyrektywa EMC 89/336/UE -Tomasz Niewodniczański

Omówienie dyrektywy. Akty normalizacyjne w zakresie EMC w krajach Unii Europejskiej. Sytuacja Polski w okresie przed i po wstšpieniu do Unii Europejskiej.

Normy dotyczšce EMC - Władysław Moroń, Mirosław Pietranik

Przeglšd europejskich norm dotyczšcych EMC. Normy rodzajowe, normy przedmiotowe, normy podstawowe.

Procedura uzyskiwania znaku CE - Witold Kowal

Urzšdzenia podlegajšce obowišzkowi oznaczenia znakiem CE. Umieszczanie oznaczenia CE. Skutki prawne oznaczenia znakiem CE. Kontrola rynku.

Pomiary emisyjnoœci – Tadeusz W. Więckowski

Pomiar zakłóceń przewodzonych i promieniowanych do œrodowiska. Pomiary na poligonie pomiarowym, w komorze bezodbiciowej oraz w komorze rewerberacyjnej. Alternatywne metody pomiaru emisyjnoœci.

Pomiary podatnoœci – Tadeusz W. Więckowski

Pomiar podatnoœci urzšdzeń na cišgłe i impulsowe pola elektromagnetyczne. Bezpoœrednie i poœrednie metody badania podatnoœci. Pomiary w komorze ekranowanej, na poligonie pomiarowym oraz komorze bezodbiciowej.

REFERATY SPECJALISTYCZNE I FIRMOWE (30 czerwca 1999 r.)

Pomiar emisyjnoœci na poligonie pomiarowym - Ryszard Zieliński

Dopuszczalne poziomy emisji zakłóceń promieniowanych. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

Odbiornik pomiarowy 8546A w pomiarach emisyjnoœci - prezentacja firmy Hewlett Packard

Pomiary kompatybilnoœci urzšdzeń w komorze bezodbiciowej - Andrzej Sowa

Pomiar podatnoœci urzšdzeń na cišgłe pola elektromagnetyczne. Poziomy ostroœci próby. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru. Pomiar emisyjnoœci. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym zlokalizowanym w komorze bezodbiciowej. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru.

Nowe analizatory widma w badaniach kompatybilnoœci urzšdzeń - prezentacja firmy Hewlett Packard

Pomiary w komorze GTEM – Walenty Suszyński

Pomiar emisyjnoœci w komorze GTEM. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Metoda pomiaru. Stanowisko pomiarowe. Cechowanie stanowiska. Procedury przeliczeń wyników pomiaru dla warunków poligonu pomiarowego. Przykłady badań.

Odbiornik pomiarowy ESCS 30 w pomiarach emisyjnoœci - prezentacja firmy Rohde & Schwarz

Pomiar emisyjnoœci z wykorzystaniem układu trzech anten ramowych - Zbigniew Jóskiewicz

Wymagania na stanowisko pomiarowe. Zasady pomiaru. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

EMS line w badaniach kompatybilnoœci urzšdzeń - prezentacja firmy Rohde & Schwarz

Pomiary zakłóceń przewodzonych - Jerzy Borowiec

Poziomy ostroœci próby. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowisk pomiarowych. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

System pomiarowy EMI Pak w badaniach kompatybilnoœci urzšdzeń - prezentacja firmy Rohde & Schwarz

Pomiary odpornoœci urzšdzeń na cišgłe pola elektromagnetyczne - Ryszard Wroczyński

Pomiar w komorze GTEM metodš bezpoœredniš. Pomiar metoda poœredniš. Wymagania stawiane stanowiskom

Komory ekranowane w badaniach kompatybilnoœci - prezentacja firmy Unitronex

Pomiar odpornoœci na zakłócenia impulsowe - Jan Sroka

Poziomy ostroœci próby. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowisk pomiarowych. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

System do pomiaru odpornoœci BEST - prezentacja firmy Schaffner

Analizator widma 3026 w badaniach kompatybilnoœci urzšdzeń - prezentacja firmy Tektronix

WYCIECZKI TECHNICZNE (1 lipca 1999 r.)

Prezentacja stanowisk pomiarowych oraz metod pomiaru kompatybilnoœci urzšdzeń w laboratoriach Instytutu Telekomunikacji i Akustyki Politechniki Wrocławskiej oraz Wrocławskiego Oddziału Instytutu Łšcznoœci.